为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商－－科利登系统有限公司日前宣布威盛电子股份有限公司（VIA Technologies, Inc.）成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计，调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计企业）。

  科利登可用于65nm技术的完备实验室解决方案包括了电子发射显微系统，具有时间精度的发射技术，激光扫描显微系统和电路编辑。它还拥有方便高效的软件工具，能把所有的失效分析和设计调试的硬件单元集成起来。该解决方案通过提升整体的产品质量，能为半导体产品的良率提升和可靠性分析提供很高的投资回报率。它能增加首次流片的成功概率，加速产品上市时间，加快关键缺陷的失效分析，由此减少产品研究开发及掩模板时故障隔离的成本。同时，它也能在芯片设计和生产之间的灰域进行相对有效的特征分析。

  威盛电子MPE部门的副总裁Shelton Lu说.：“威盛精准把握新技术的市场动向，并将它融入到我们的芯片产品和各种核心逻辑芯片组里面，从而能持续保持它在业界领头羊。因为只需与同一个公司合作，所以我们也可以在整个设计和调试流程中最好地利用科利登的技术和专业优势。当今业界没有其它任何公司能像科利登一样提供一整套完备的先进实验室解决方案，涵盖了那些所必需的先进调试工具，同时又保护了fabless和foundry之间的那些临界知识产权。科利登的解决方案很适合威盛的商业模式，因此我们毫不犹豫地选择了科利登。”

  科利登副总裁，诊断与特征分析产品部总经理Ofir Baharav说：“持续不断的增加的复杂度和上市时间压力，以及更短的周期，是我们客户的一个巨大挑战。但是，他们现在可以不仅仅只依赖CAD工具在有限的时间内进行失效分析。我们期待能和威盛一起努力，为他们提供一种更加有效的系统的产品调试解决方案。”

   威盛电子宣布VIA P4M900 DirectX 9整合图形芯片组, 支持In

  凡本网注明“来源：CK365测控网”的全部作品，均为北京新科时代传媒信息技术有限公司-CK365测控网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：CK365测控网”。违反上述声明者，本网将追究其有关规定法律责任。

  本网转载并注明自其它来源的作品，目的是传递更加多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵犯权利的行为的直接责任及连带责任。别的媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。

  如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。